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产品名称: Helios G4 CX DualBeam双束显微镜产品型号: TFE000049产品时间: 2020-06-29
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Thermo Scientific™ Helios™ G4 DualBeam™产品系列凭借其聚焦离子束和电子束性能、专有软件、自动化和易用性特征,重新定义了样品制备和三维表征的标试方式。属于业界Helios DualBeam系列的第四代产品,专为满足科学家和工程师的各类分析及研究需求而设计,它将创新的Thermo Scientific Elstar ™ 电子镜筒和Thermo
产品介绍
系统不仅配置进的电子和离子光学系统,还采用了一系列进的技术,可实现简单一致的高分辨率S/TEM和原子探针断层扫描(APT)样品制备,以及质量的内部和三维表征,即使在挑战性的样品上也表现出色。Helios G4 CX DualBeam系统的技术创新结合易于使用、面的 Thermo Scientific AutoTEM ™4软件(可选)和专业的应用知识,可快速轻松地定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。为了获得高质量的结果,需要使用低能离子进行精抛,以大限度地减少样品的表面损伤。Tomahawk聚焦离子束(FIB)镜筒不仅可以在高电压下进行高分辨率成像和刻蚀,而且具有良好的低电压性能,可以制备高质量的TEM薄片。
产品特点
• Tomahawk离子镜筒实现速、高质量、定位TEM和原子探针样品制备。
• lstar电子镜筒以短时间获取纳米尺度信息。
• 多达6个集成化镜筒内及透镜下探测器,采集优质、锐利、无荷电图像,提供完整的样品信息。
• 可选AS&V4软件,精确定位感兴趣区域,获取质量、多模态内部和三维信息。
• 小于10nm复杂结构的快速、准确、精确刻蚀和沉积。
• 高度灵活的110 mm样品台和内置的Thermo Scientific Nav- Cam ™ 相机实现精确样品导航。
• 集成化样品清洁管理和的DCFI和Thermo Scientific SmartScan ™ 等模式实现无伪影成像。
参数
电子束
• 在工作距离下:
− 30kV下STEM 0.6nm
− 15kV下 0.6nm
− 1kV下 1.0nm
− 1kV下 电子束减速模式 0.9nm
• 在束重合点:
− 15kV下 0.6nm
− 1kV下 2.5nm
• 电子束流范围:0.8pA–100nA
• 加速电压范围:200V-30kV
• 着陆能量范围: 20eV-30keV
• 大水平视场宽度:4mm工作距离下为2.3mm
离子光学
• 大束流Tomahawk离子镜筒
• 离子束流范围:0.1pA–65nA
• 加速电压范围:500 V-30kV
• 两级差分抽吸
• 飞行时间(TOF)校准
• 15 孔光阑
• 大水平视场宽度:在束重合点出为0.9mm
• 离子源寿命至少1,000小时
• 离子束分辨率(在重合点处):
− 30kV下 4.0nm(采用统计方法)
− 30kV下 2.5nm(采用选边法)
探测器
• Elstar 透镜内SE/BSE 探测系统(TLD-SE、TLD-BSE)
• Elstar 镜筒内SE/BSE 探测系统(ICD)
• Elstar 镜筒内BSE 探测系统(MD)
• ETD–Everhart-Thornley 二次电子探测器
• 样品室红外CCD相机,用于样品台高度观察
• ICE探测器-高性能离子转换和电子探测器,用于采集二次电子和二次离子
• Nav-Cam ™ : 样品室内彩色光学相机,用于样品导航
• DBS–可伸缩式低电压、高衬度、固态背散射电子探测器
• STEM 3+ – 可伸缩分割式探测器(BF、DF、HAADF)
• 集成电子束流测量
样品台和样品
• 灵活五轴电动样品台:
-XY范围:110mm
- Z范围:65mm
• 旋转:360°(连续)
• 倾斜范围:-15°到 +90°
• XY重复精度:3μm
• 大样品高度:与优中心点间隔85mm
• 大样品质量(0°倾斜):2kg(包括样品托)
• 大样品尺寸:可沿X、Y轴*旋转时直径为110mm(若样品超出此限值,则样品台行程和旋转会受限)
• 同心旋转和倾斜真空系统
• *无油的真空系统
• 样品仓真空(高真空):< 2.6 x 10 -6 mbar(24小时抽气后),抽气时间:< 5 分钟样品仓
• 电子束和离子束重合点在分析工作距离处(SEM 4mm)
• 端口:21个
• 内宽:379mm
• 集成等离子清洗
产品料号 | 产品货号 | *产品名称 | *产品规格 |
TFE000049 | TFE000049 | Helios G4 CX DualBeam双束显微镜 | Helios G4 CX DualBeam |
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