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产品名称： Themis透射电镜产品型号： TFE000054产品时间： 2020-06-29
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Thermo Scientific™ Themis™ 基于FEI的Titan/TEM平台——2005年推出——Themis TEM家族形成了下一代的世界上大的，商业上可用的材料科学解决方案，与Themis Z和Themis ETEM。这是开始与我们革命性的宽高张力范围和校正准备平台，加上宽极片间隙提供空间做更多。基于稳定性和灵活性的发展，Themis是高性能的，能够不断地发现和探索原子尺度。
产品介绍
这些经过验证的光学与新的突破性扫描透射电子显微镜（STEM）成像能力和增强的自动化软件相结合，使所有材料科学家都能获得终的成像和分析性能。FEI的像差校正Themis Z扫描透射电子显微镜（STEM）结合了经过验证的光学和新的突破性的STEM成像能力和增强的自动化软件，使终的成像性能掌握在所有材料科学家的手中。与我们*的EDX投资组合的西米斯Z提供了所有全面的原子表征数据在一个单一的工具，单一的物镜配置。ETEM是我们专门为观察功能纳米材料及其对气体和温度刺激的时间分辨响应而设计的环境瞬变电磁平台。通过*的差分泵浦物镜，样品区成为研究催化剂颗粒、纳米器件和其他材料的实验室，使原子尺度能够观察表面和界面的形貌和相互作用。当需要时，泰坦ETEM可以作为原子尺度成像的标S/TEM。
产品特点
• 专为观察功能纳米材料及其对气体和温度刺激的及时响应而设计。
• 试样区域具有*的微分泵目标透镜，成为研究催化剂颗粒、纳米器件和其他材料的实验室，使原子尺度能够洞察表面和界面的形态和相互作用。
• 化学成分和粘合状态研究。
• 3d 化学映射。
• s/tem断层扫描。
• 磁场和电场测量。
• 动态研究。
• 原位气体-固体相互作用实验。
参数
型号： Themis 200 |
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| 能量分散 | 点分辨率 | 信息限制 | STEM分辨率 |
图像校正器 | 0.8 eV | 90pm | 90pm | 160pm |
探针校正器 | 0.8 eV | 240pm | 110pm | 80pm |
无校正 | 0.8 eV | 240pm | 110pm | 160pm |
| X-FEG |
| 注 ：所有规格都是 200 kV 电压下的数据 如需其他加速电压下的规格列表，请联系销售代表 | |
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型号：Themis 300 |
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| 能量分散 | 点分辨率 | 信息限制 | STEM分辨率 |
图像校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 80pm | 80pm | 136pm |
探针校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 200pm | 100pm | 80pm |
单色仪 + X-FEG | 0.2 至 0.3 eV | 200pm | 80pm | 136pm |
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型号：Themis ³ 300 |
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| 能量分散 | 点分辨率 | 信息限制 | STEM分辨率 |
图像校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 80pm | 80pm | 136pm |
探针校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 200pm | 100pm | 70pm |
单色仪/X-FEG | 0.2 至 0.3 eV | 80pm | 70pm | 70pm |
图像 + 探针校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 80pm | 80pm | 70pm |
* 取决于能量过滤器选件 | S-FEG 0.7 eV、 |
| 注 ：所有规格都是 300 kV电压下的数据 | |
• 可选超稳定、高亮度肖特基场发射电子枪（X-FEG，更多详情请参见单独的产品数据表）。
• 全新三透镜聚光器系统可量化指示照明区域会聚角和大小，从而量化衡量电子剂量和照明条件。
• 灵活的高电压范围,Titan Themis 300和Titan Themis³300 ：60至300kV（60、80、120、200、300kV）, Titan Themis 200 ：80至200kV（80、120、200kV）。
• 电子枪单色仪可实现高能量分辨率EELS以及更高的空间分辨率，尤其在低 kV HR-S/TEM下。
• STEM和TEM ：Titan Themis 300和Titan3 Themis 300 ：在 STEM和TEM中可达70pm 性能 ；Titan Themis 200 ：在 TEM 中具有90pm 性能，在 STEM中具有80pm性能。
• 使用环境罩时，Titan3 Themis的室内声音和温度变化要求可以放宽。
• 拥有模块化镜筒设计可以为镜筒中的低励磁偏转器打造精确的机械叠层系统，大限度降低由电子 噪声带来的不稳定性。
• 在模式切换过程中ConstantPower™透镜设计具有热稳定性。
• 低磁滞设计可大限度减小光学组件间的串音，实现可再现性。
• Ruska-Rieke S-Twin 对称物镜，5.4 mm宽极片间距设计以及可以使用加热、冷却和STM/AFM 支架等特殊支 架的“多用途空间”。
• 物镜背部焦平面中的物镜孔隙非常适合开展TEM 暗场应用工作,现场可升级,加装探针Cs校正器。
• 自动孔隙支持远程控制操作，而且改变孔隙期间可调用孔隙位置，具有可再现性。
• 无旋转成像，让操作更轻松，并能清晰呈现图像与衍射平面之间的方位关系。
• 用计算机控制的全新5轴样品压电载物台，支持精确调用存储位置，在搜索目标区域时跟踪访问过的区域，并具有超稳定、深亚埃分辨率以及低样品漂移。
• 全新压电载物台可实现精确到20pm的移动，以便将目标观测特征置于视场中央。
• 压电载物台提供的线性漂移补偿功能可用于减轻热漂移造成的限制，因为在原位加热或冷却实验中热漂移不可避免。
• 分析用双倾斜样品架具有±40度的倾斜范围，支持观测多晶材料中某个晶体的多个晶带轴。倾斜范围高达±75度的立体成像样品架，可大限度减少三维重构中的图块缺失。
• 全新冷阱设计，多可使用一周，从而大限度提高正常运行时间。
| 产品料号 | 产品货号 | *产品名称 | *产品规格 |
| TFE000054 | TFE000054 | Themis透射电镜 | Themis 200 |
| TFE000055 | TFE000055 | Themis透射电镜 | Themis 300 |
| TFE000056 | TFE000056 | Themis透射电镜 | Themis ³ 300 |
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